quantum efficiency由光源，單色儀，光學(xué)斬波器及鎖相放大系統(tǒng)等組成，系統(tǒng)動(dòng)作由計(jì)算機(jī)控制完成，測(cè)試過(guò)程自動(dòng)化，完成數(shù)據(jù)采集、顯示、分析等工作。光源通過(guò)單色儀產(chǎn)生單色光，照射到樣品上，然后由鎖相放大系統(tǒng)等數(shù)據(jù)采集模塊完成數(shù)據(jù)采集并輸入計(jì)算機(jī)中，再由計(jì)算機(jī)完成后續(xù)數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、顯示并保存。
 

　　quantum efficiency是一個(gè)微觀過(guò)程復(fù)合載流子產(chǎn)生的光子數(shù)與復(fù)合載流子總數(shù)之比。因?yàn)闊o(wú)法去計(jì)數(shù)復(fù)合載流子總數(shù)和產(chǎn)生的光子總數(shù)。因此一般是通過(guò)測(cè)量LED輸出的光功率來(lái)評(píng)價(jià)這一效率。直接躍遷過(guò)程比間接躍遷過(guò)程簡(jiǎn)單，其內(nèi)量子效率取決于少數(shù)載流子的輻射復(fù)合與非輻射復(fù)合的壽命。直接躍遷的內(nèi)量子效率可以表示為從上式可見(jiàn)，提高內(nèi)量子效率主要在于提高材料的純度、完整性和改進(jìn)PN結(jié)制作工藝，以降低非輻射復(fù)合中心的濃度。
 

　　間接躍遷的復(fù)合輻射過(guò)程是通過(guò)一些發(fā)光中心來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這就使得過(guò)程復(fù)雜化，間接躍遷過(guò)程的內(nèi)量子效率可粗略地表示為恰當(dāng)選擇發(fā)光中心，使它具有較高的濃度及適當(dāng)?shù)碾婋x能和大的復(fù)合截面，并盡可能提高材料純度和完整性，以降低熔滅中心的濃度。
 

　　quantum efficiency量子效率的測(cè)定方法：
 

　　(1)測(cè)定待測(cè)樣品的吸收和發(fā)射，以便選擇合適的標(biāo)樣以及激發(fā)波長(zhǎng).標(biāo)樣選擇有兩個(gè)條件必須滿足：一是待測(cè)樣品與標(biāo)樣的吸收波長(zhǎng)范圍盡量重疊；二是激發(fā)波長(zhǎng)要位于二苯意及待測(cè)物發(fā)射譜之外，否則發(fā)射峰不能出全，積分后的面積不能很好的代表熒光發(fā)射的實(shí)際能力。
 

　　(2)根據(jù)朗伯一比爾定律，稀釋標(biāo)樣及樣品的濃度至他們?cè)诩ぐl(fā)波長(zhǎng)附近的吸收值落在0.05-0.1之間，兩者的吸收值越接近越好，有的人干脆就選取他們吸收曲線交點(diǎn)處的波長(zhǎng)為激發(fā)波長(zhǎng)，那么吸收值之比一項(xiàng)就為1了，當(dāng)然即使是曲線交點(diǎn)處為激發(fā)波長(zhǎng)，也要位于吸收波長(zhǎng)附近。
 

　　(3)在同等條件下(激發(fā)波長(zhǎng)，狹縫寬度，掃描范圍，衰減與否)掃出標(biāo)樣和待測(cè)樣品的發(fā)射譜，并利用儀器自帶軟件計(jì)算發(fā)射譜的積分面積。